Комплекс позволяет проводить тестирование партий ПЛИС XQR2V3000 в корпусе CG717 в двух режимах.

В режиме подключения к тестовой станции Teradyne J750 Integra проводятся тесты контактирования, тесты работы буферов ввода-вывода.

В автономном режиме проводятся тесты функционирования внутренних ресурсов ПЛИС – логика, встроенная память, умножители, блоки PLL (всего 8 тестов).


В состав комплекса входят:

  • плата-наездник для тестера Teradyne J750 Integra с установленным КУ для тестируемой ПЛИС XQR2V3000 в корпусе CG717;
  • отладочная плата Xilinx EK-K7-KC705-G, объединенная с платой-наездником по стандарту FMC, и являющаяся источником тестовых воздействий для тестируемой ПЛИС;
  • комплект ПО, включающий ПО тестируемой ПЛИС;
  • проект в среде IG-XL тестовой станции Teradyne J750 Integra, ПО ведущей ПЛИС Kintex-7 на плате EK-K7-KC705-G, приложение для ПК для автоматизации тестирования и учета результатов.

 

 

 Рисунок1Рисунок2